實驗室數字化HPGe伽瑪譜儀優勢
l 小巧的外觀，*的功能 
l 與SMART-1、DIM技術良好匹配 
l 低頻噪聲抑制器功能，顯著改善分辨率 
l 集合了ORTEC在數字化譜儀上的多項技術：自動優化、數字化自動極零、零死時間校正、內置虛擬示波器、彈道虧損校正和數字化門控基線恢復等 
l USB2.0接口，高速傳播數據 
l 有連接自動換樣器的接口

實驗室數字化HPGe伽瑪譜儀技術參數：

大數據通過率 : 
大于100,000 cps（低頻抑制器LFR關閉）；大于34,000 cps（低頻抑制器LFR開啟，根據成形時間常數而變）。 
增益: 
粗調：由計算機選定為1,2,4,8,16,或32； 
細調：由計算機設定為0.45至1.00。 
成形時間常數： 
上升時間：0.8至23 ms可調，每步0.2ms，由計算機選擇；平頂：范圍從0.3至2.4ms，每步0.1ms，由計算機選擇。在自動優化功能下自動調整。 
存儲器分段（系統變換增益）： 
由計算機選擇為16,384，8192，4096，2048，1024或512道。 
非線性： 
積分非線性：≤ ±0.025%（譜的99.5%，用5.9KeV到1836KeV范圍內的混合源測定)； 
微分非線性：≤ ±1%（用BNC公司的脈沖產生器及斜波產生器測定) 
數字化穩譜器： 
由計算機控制并穩定增益和零點。 
溫度系數： 
增益:<35ppm/°C；零點:<3 ppm/°C。 
過載恢復： 
在大增益時，能在2.5倍的非過載脈沖寬度內從1000倍過載恢復至額定輸出的2%以內（用Insight虛擬示波器測定） 
脈沖抗堆積： 
自動設定域值，脈沖對分辨率為500ns。 
自動數字化極零調節： 
由計算機控制，可以手動或自動設定，遠程模擬示波器方式診斷。 
LLD/ULD： 
數字下域電平甄別器，以道為單位設置，LLD以下所有各道的計數被卡掉；數字上域電平甄別器， ULD以上所有各道的計數被卡掉。 
數字式門控基線恢復器： 
可由計算機調節恢復頻率（高、低或自動）。 
數據存儲器： 
16,384道不丟失數據存儲器，每道容量231-1（20億）計數。 
計數率顯示： 
在譜儀或電腦屏幕上顯示計數率。 
死時間校正： 
按Gedcke-Hale 法活時校正，精度（隨峰面積而變化）： <+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。 
顯示/接口： 
240´160像素(pixel)背光液晶顯示(LCD)提供譜的活顯示和狀態信息。USB2.0接口。 
尺寸與重量： 
尺寸：24.9×20.0×8.1 cm。 
重量：＜1.0Kg。 
工作條件： 5°C到50°C（包括LCD顯示）。

主要特點：

低頻抑制器（LFR）： 
LFR是一項新型的數字化濾波技術，主要用來消除來自于機械制冷、電源電壓波動或接地不良等外部因素導致的低頻噪聲信號，從而使系統的分辨率得到較顯著改善。 
用戶可根據情況選擇開啟或關閉此項功能。 

SMART-1/DIM技術： 
探測器與譜儀之間采用集束電纜連接，屏幕隨時顯示探測器晶體溫度、高壓狀況、實時間、活時 
間、計數率、增益和零點穩定性和探測器序列號等信息。 

零死時間校正（ZDT）： 
在譜獲取中，對于中子活化分析中計數率快速衰減、或是在線測量時突然出現的尖峰信號的情況，ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale時鐘進行零死時間校正，以實現無損失計數（Loss-free Counting）。由軟件可以快速選定這一功能。經校正的譜圖和未經校正的譜圖可以同時保存，以作進一步分析。ZDT在顯示校正后的譜圖的同時給出與之對應的不確定度。 

彈道虧損校正/虛擬示波器： 
在系統采用相對效率較高的HPGe探測器時， 
彈道虧損效應（Ballistic Deficit）常導致分辨率的變差甚至惡化（尤其在高能端），ORTEC的內置虛擬示波器可以用來設置脈沖成形的平頂（flap top）和斜度(tilt)，比如對207%的HPGe探測器，在平頂時間設為0.8μs時，分辨率能恢復到接近正常水平。 

與自動換樣器匹配： 
DSPEC-jr-2.0具有相應接口，與ORTEC自動換樣器ASC2匹配?？捎糜谶b控操作。 

簡單快捷的設置： 
由GammaVision與Mastro-32軟件都可以實現參數的快速設置。