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在材料檢測與研發中,科研人員常常面臨一個抉擇:用掃描電鏡(SEM)看清樣品形貌后,若想進一步分析其成分、缺陷或發光特性,往往需要切換模式、更換探測器,甚至動用另一臺專用設備。這個過程耗時耗力,還可能丟
JEOL冷凍電鏡成功觀測到蛋白質中的氫原子、電荷及化學鍵日本理化研究所、東北大學和JST(科學技術振興機構)的科學家們利用JEOLCryoARM300冷凍電子顯微鏡以1.19埃的分辨率,成功觀測到蛋白
第20屆國際顯微鏡學會于今年9月10日-15日在韓國釜山的BEXCO舉行。JEOL攜帶涵蓋各領域的新技術和實用技術的有用信息出展IMC20,并布置各種產品信息板塊:半導體用JEM-ACE200F-TE
場發射掃描電鏡作為材料表征的重要手段,其成像質量在很大程度上取決于樣品制備的好壞。同樣一臺設備,制樣方法得當,就能獲得清晰、真實的微觀形貌;制樣過程稍有疏忽,就可能出現假象、荷電、污染等問題,導致觀察
場發射掃描電鏡的成像質量與分析精度,在很大程度上依賴于真空系統的穩定運行。電子束需要在高真空環境中產生和傳輸,一旦真空度下降,不僅會影響圖像分辨率,還可能導致燈絲壽命縮短、樣品污染等問題。因此,做好真
如果把日本電子掃描電鏡(SEM)比作一臺微觀世界的“超高清掃描儀”,它的核心工作原理,可以通俗地拆解為“照亮-掃描-成像”三步。首先,它不用光,而是用一束極細的高能電子束作為“探照燈”。這束電子由頂部
在電子電器、五金加工、汽車零部件等制造業領域,管控鉛、鎘、汞、六價鉻等有害重金屬,滿足ROHS環保指令合規要求,是產品出廠、供應鏈準入bu不可少的檢測環節。長期以來,行業普遍依賴傳統濕化學檢測方法完成
在電子制造業、材料檢測行業的質量管控體系中,ROHS金屬成分分析儀是把控產品有害物質合規性的核心設備,其檢測數據的精準、穩定,直接關系到產品是否符合環保管控標準,也是企業規避質檢風險、保障產品品質的關
傳統生物電鏡觀測,通常需要對樣品進行重金屬染色來提升成像反差,繁瑣的制樣步驟易破壞生物原始結構。JEOL低電壓電鏡憑借獨特成像技術,實現生物樣品免染色觀測,為生命科學研究帶來全新解決方案。該設備依托低
在材料分析、半導體檢測、金屬研發等領域,樣品截面制備質量直接決定后續觀測與分析結果的準確性。截面拋光儀與傳統機械制樣是當前主流的兩種制樣方式,二者在核心原理、制樣效果、適用場景等方面差異顯著,選型時需
截面拋光儀作為材料微觀分析的關鍵制樣設備,憑借非接觸式加工、低損傷、高平整的獨特優勢,突破傳統機械拋光的局限,可適配金屬、半導體、陶瓷、聚合物、復合材料、地質礦物、生物材料及電子元器件等多類樣品,為掃
實驗選用市售Pd納米粒子作為樣品,甲烷(CH4)和氧氣(O2)作為反應氣體,在25到960°C的加熱過程中用TEM和MS分別對樣品形態結構及氣相產物進行觀察分析。Table1顯示了每個設備的測量條件。結果Figure2顯示了原位樣品桿的加熱程序(中)、對應的TEM圖像(上)及m/...